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Note per Studenti Giunzione pn - potenziale di contatto e zona di svuotamento

Giunzione pn - potenziale di contatto e zona di svuotamento

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Come nasce la zona di svuotamento

Si uniscono un cristallo di tipo p (accettori NAN_A, lacune maggioritarie) e uno di tipo n (donatori NDN_D, elettroni maggioritari) (Semiconduttori - bande, drogaggio e legge di azione di massaNel silicio puro (intrinseco) ogni coppia elettrone-lacuna è creata dall'agitazione termica: n = p = n_i ≈ 1,5·10^10 cm^-3 a 300 K, con n_i^2 proporzionale a T^3 e^{-E_G/kT}. Il drogaggio con donatori (gruppo V) crea elettroni liberi (tipo n, n ≈ N_D), con accettori (gruppo III) crea lacune (tipo p, p ≈ N_A). Vale sempre la legge di azione di massa n·p = n_i^2 e la neutralità della carica p + N_D = n + N_A; con drogaggi compensati conta la differenza N_D − N_A.Semiconduttori - bande, drogaggio e legge di azione di massa →). Attraverso il piano di contatto (la giunzione metallurgica) c'è una forte differenza di concentrazione:

  1. le lacune diffondono da p a n e gli elettroni da n a p (Corrente di deriva e di diffusione - resistenza di una barrettaNei semiconduttori la corrente ha due cause: il campo elettrico (deriva, J = qpμ_pE + qnμ_nE = σE, con velocità v = μE) e le differenze di concentrazione (diffusione, J_n = qD_n dn/dx, J_p = −qD_p dp/dx). Le due costanti sono legate dalla relazione di Einstein D/μ = V_T = kT/q ≈ 25 mV. Una barretta uniforme di lunghezza L e sezione S ha resistenza R = L/(σS). In un materiale isolato a concentrazione non uniforme la corrente totale è nulla e compare un campo (e una tensione V(X2) − V(X1) = V_T ln[n(X2)/n(X1)]).Corrente di deriva e di diffusione - resistenza di una barretta →);
  2. ciascun portatore che se ne va lascia uno ione fisso scoperto: ioni negativi (accettori) dal lato p, ioni positivi (donatori) dal lato n. Si forma una regione, vicino alla giunzione, svuotata di portatori liberi, con carica fissa: la zona di svuotamentodetta anche zona di carica spaziale: regione vicino alla giunzione priva di portatori liberi, dove restano solo gli ioni fissi (o di carica spaziale), di larghezza W=xp+xnW=x_p+x_n;
  3. la carica fissa produce un campo elettrico diretto da n a p che si oppone alla diffusione; l'equilibrio si raggiunge quando la corrente di deriva dovuta al campo compensa quella di diffusione, per ogni tipo di portatore;
  4. fuori dalla zona di svuotamento i semiconduttori restano neutri (regioni quasi neutre).

La differenza di potenziale tra le due regioni quasi neutre è il potenziale di contatto (o di giunzione) Φ0\Phi_0.

Potenziale di contatto

In equilibrio Jn=0J_n=0 e Jp=0J_p=0 ovunque. Applicando a ciascun lato la formula della concentrazione non uniforme (V(X2)−V(X1)=VTln⁡n(X2)n(X1)V(X_2)-V(X_1)=V_T\ln\frac{n(X_2)}{n(X_1)}) con nn≃NDn_{n}\simeq N_D nella regione n e np≃ni2/NAn_p\simeq n_i^2/N_A nella regione p: Φ0=VTln⁡nnnp=VTln⁡NANDni2\boxed{\Phi_0=V_T\ln\frac{n_n}{n_p}=V_T\ln\frac{N_AN_D}{n_i^2}} Dipende solo dai drogaggi e dalla temperatura (e in modo logaritmico, quindi lento). Per NA=4⋅1014N_A=4\cdot10^{14}, ND=2⋅1018N_D=2\cdot10^{18}, ni=1,5⋅1010n_i=1{,}5\cdot10^{10} e VT=25 mVV_T=25\ \mathrm{mV}: Φ0=0,025ln⁡8⋅10322,25⋅1020=0,025⋅28,9=722 mV\Phi_0=0{,}025\ln\dfrac{8\cdot10^{32}}{2{,}25\cdot10^{20}}=0{,}025\cdot28{,}9=722\ \mathrm{mV}. Per NA=3⋅1018N_A=3\cdot10^{18}, ND=6⋅1015N_D=6\cdot10^{15}, ni=1,4⋅1010n_i=1{,}4\cdot10^{10}: Φ0=804 mV\Phi_0=804\ \mathrm{mV}. Per giunzioni al silicio i valori stanno tra 0,60{,}6 e 0,9 V0{,}9\ \mathrm V.

Attenzione: Φ0\Phi_0 non si misura. Se si collega un voltmetro ai terminali di un diodo isolato (in equilibrio) si legge zero: ai contatti metallo-semiconduttore si creano altri potenziali di contatto che compensano esattamente Φ0\Phi_0 (altrimenti si potrebbe estrarre energia da un diodo a temperatura costante). Il potenziale di giunzione fa da barriera ai portatori ma non appare come tensione ai morsetti.

Larghezza della zona di svuotamento e campo

La carica totale delle due parti deve essere uguale: qNAxp S=qNDxn S⇒NAxp=NDxnqN_Ax_p\,S=qN_Dx_n\,S\Rightarrow N_Ax_p=N_Dx_n, quindi la zona penetra di più nel lato meno drogato. Il campo è nullo fuori dalla zona, cresce linearmente (per carica costante) fino a un massimo nella giunzione metallurgica e rientra a zero: ha l'andamento di un triangolo di base WW. Il potenziale di contatto è l'area del triangolo: Φ0=12EmaxW\Phi_0=\tfrac12E_{max}W. Risolvendo con la legge di Gauss (εSi≃1 pF/cm\varepsilon_{Si}\simeq1\ \mathrm{pF/cm}): W=2εSiq(1NA+1ND)Φ0,xn=WNANA+ND,xp=WNDNA+ND,Emax=2Φ0W.W=\sqrt{\frac{2\varepsilon_{Si}}{q}\Big(\frac1{N_A}+\frac1{N_D}\Big)\Phi_0},\quad x_n=W\frac{N_A}{N_A+N_D},\quad x_p=W\frac{N_D}{N_A+N_D},\quad E_{max}=\frac{2\Phi_0}{W}.

Esempio. Giunzione simmetrica NA=ND=1016 cm−3N_A=N_D=10^{16}\ \mathrm{cm^{-3}}: Φ0=0,025ln⁡10322,25⋅1020=0,67 V\Phi_0=0{,}025\ln\frac{10^{32}}{2{,}25\cdot10^{20}}=0{,}67\ \mathrm V; W=2⋅10−121,6⋅10−19⋅2⋅10−16⋅0,67=4,1⋅10−5 cm=0,41 μmW=\sqrt{\frac{2\cdot10^{-12}}{1{,}6\cdot10^{-19}}\cdot2\cdot10^{-16}\cdot0{,}67}=4{,}1\cdot10^{-5}\ \mathrm{cm}=0{,}41\ \mu\mathrm m (0,20 μm0{,}20\ \mu\mathrm m per lato) e Emax=2⋅0,674,1⋅10−5=3,3⋅104 V/cmE_{max}=\dfrac{2\cdot0{,}67}{4{,}1\cdot10^{-5}}=3{,}3\cdot10^4\ \mathrm{V/cm}. Con NA=1017N_A=10^{17} e ND=1016N_D=10^{16}: Φ0=0,73 V\Phi_0=0{,}73\ \mathrm V, W=0,32 μmW=0{,}32\ \mu\mathrm m con xn=0,29 μmx_n=0{,}29\ \mu\mathrm m e xp=0,029 μmx_p=0{,}029\ \mu\mathrm m (dieci volte meno nel lato più drogato).

Grafico interattivo: Campo elettrico (kV/cm) nella zona di svuotamento di una giunzione simmetrica N_A = N_D = 10^16 cm^-3 in funzione della posizione x (μm): triangolo di base W = 0,41 μm e valore minimo −32,8 kV/cm nella giunzione

Giunzione polarizzata

Si applica una tensione VV tra il lato p (morsetto positivo) e il lato n:

  • polarizzazione diretta (V>0V>0): la tensione si sottrae alla barriera, Φ0→Φ0−V\Phi_0\to\Phi_0-V: la zona si restringe e la diffusione prevale sulla deriva, quindi passa corrente;
  • polarizzazione inversa (V<0V<0): la barriera sale a Φ0+∣V∣\Phi_0+|V|, la zona si allarga e passa solo una piccola corrente di saturazione.

Le formule precedenti restano valide sostituendo Φ0\Phi_0 con Φ0−V\Phi_0-V: W(V)=W(0)1−VΦ0.W(V)=W(0)\sqrt{1-\frac V{\Phi_0}}. Per la giunzione simmetrica dell'esempio: V=0,3 VV=0{,}3\ \mathrm V (diretta) →W=0,30 μm\to W=0{,}30\ \mu\mathrm m; V=0→0,41 μmV=0\to0{,}41\ \mu\mathrm m; V=−5 V→W=0,411+5/0,67=1,19 μmV=-5\ \mathrm V\to W=0{,}41\sqrt{1+5/0{,}67}=1{,}19\ \mu\mathrm m.

Capacità di giunzione. La zona di svuotamento è un dielettrico tra due regioni conduttrici: ha capacità per unità di area εSi/W\varepsilon_{Si}/W. Quindi Cj(V)=εSiSW(V)=Cj01−V/Φ0,Cj0=εSiSW(0).C_j(V)=\frac{\varepsilon_{Si}S}{W(V)}=\frac{C_{j0}}{\sqrt{1-V/\Phi_0}},\qquad C_{j0}=\frac{\varepsilon_{Si}S}{W(0)}. Nell'esempio, con S=10−4 cm2S=10^{-4}\ \mathrm{cm^2}: Cj0=10−12⋅10−44,1⋅10−5=2,4 pFC_{j0}=\frac{10^{-12}\cdot10^{-4}}{4{,}1\cdot10^{-5}}=2{,}4\ \mathrm{pF}. La capacità decresce con la polarizzazione inversa ed è alla base dei varicap (condensatori controllati in tensione).

Corrente: legge della giunzione e equazione del diodo

Fuori dalla zona di svuotamento la corrente è di diffusione dei portatori minoritari iniettati dall'altro lato. La legge della giunzione dà le concentrazioni dei minoritari ai bordi della zona, in funzione della tensione: pn(xn)=pn0 eV/VT=ni2NDeV/VT,np(−xp)=np0 eV/VT=ni2NAeV/VT.p_n(x_n)=p_{n0}\,e^{V/V_T}=\frac{n_i^2}{N_D}e^{V/V_T},\qquad n_p(-x_p)=n_{p0}\,e^{V/V_T}=\frac{n_i^2}{N_A}e^{V/V_T}. In polarizzazione diretta i minoritari in eccesso si diffondono nelle regioni quasi neutre e si ricombinano dopo una lunghezza di diffusione Lp=DpτpL_p=\sqrt{D_p\tau_p}, Ln=DnτnL_n=\sqrt{D_n\tau_n} (τ\tau vita media). Sommando le due correnti di diffusione si ottiene l'equazione del diodo I=IS(eV/VT−1),IS=qS ni2[DpLpND+DnLnNA]\boxed{I=I_S\left(e^{V/V_T}-1\right),\qquad I_S=qS\,n_i^2\left[\frac{D_p}{L_pN_D}+\frac{D_n}{L_nN_A}\right]} (ISI_S è la corrente di saturazione inversa). Esempio: NA=1017N_A=10^{17}, ND=1016N_D=10^{16}, S=10−4 cm2S=10^{-4}\ \mathrm{cm^2}, τ=1 μs\tau=1\ \mu\mathrm s, Dp=13D_p=13, Dn=34 cm2/sD_n=34\ \mathrm{cm^2/s}: Lp=36 μmL_p=36\ \mu\mathrm m, Ln=58 μmL_n=58\ \mu\mathrm m e IS=1,5⋅10−15 AI_S=1{,}5\cdot10^{-15}\ \mathrm A; con V=0,6 VV=0{,}6\ \mathrm V si ha I=1,5⋅10−15(e24−1)=40 μAI=1{,}5\cdot10^{-15}(e^{24}-1)=40\ \mu\mathrm A, e per avere 1 mA1\ \mathrm{mA} servono V=VTln⁡(I/IS)=0,68 VV=V_T\ln(I/I_S)=0{,}68\ \mathrm V (valori controllati numericamente). La tensione di accensione tipica (0,60{,}6–0,7 V0{,}7\ \mathrm V) dipende dolcemente da ISI_S e quindi dalla tecnologia (Il diodo a giunzione - equazione, modelli e piccolo segnaleIl diodo ha caratteristica esponenziale I = I_S(e^{V/V_T} − 1): conduce solo in polarizzazione diretta con tensione quasi costante (0,6–0,7 V). Nei circuiti si usano modelli semplificati: interruttore ideale (ON: V = 0 e I > 0; OFF: I = 0 e V < 0), con tensione di soglia V_γ, lineare a tratti (V_γ + r_D I), oppure l'esponenziale risolto per iterazione. Una rete a diodi si risolve ipotizzando lo stato di ogni diodo e verificando le condizioni (2^N casi per N diodi). Il diodo Zener in zona di breakdown inverso mantiene una tensione V_Z quasi costante (stabilizzatore). Per piccoli segnali il diodo è una resistenza r_d = V_T/I_D.Il diodo a giunzione - equazione, modelli e piccolo segnale →).

Capacità di diffusione. In polarizzazione diretta la carica QpQ_p dei minoritari immagazzinata cambia con VV: Cdiff=∂Qp∂V≃τp∂I∂V≃τpIVTC_{diff}=\dfrac{\partial Q_p}{\partial V}\simeq\tau_p\dfrac{\partial I}{\partial V}\simeq\tau_p\dfrac{I}{V_T} (τp=1 μs\tau_p=1\ \mu\mathrm s e I=1 mAI=1\ \mathrm{mA} danno 40 nF40\ \mathrm{nF}: ben più grande della CjC_j in inversa).

Errori comuni

  • Considerare Φ0\Phi_0 come la tensione misurabile ai capi del diodo isolato (è zero).
  • Dimenticare che la zona si estende di più dal lato meno drogato.
  • Applicare W(V)=W(0)1+V/Φ0W(V)=W(0)\sqrt{1+V/\Phi_0} con VV diretta (nella forma con VV positiva in diretta il segno è −-).
  • Usare ln⁡\ln in base 10 nella formula di Φ0\Phi_0.
  • Dimenticare ni2n_i^2 nel numeratore sotto il logaritmo (e usare nin_i).

Versione ripasso

Esercizi su questo argomento

Teoria collegata