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Note per Studenti Esercizio 9 · quesiti rapidi su semiconduttori, barrette di silicio e giunzione pn (temi d'esame 2021-2026)

Esercizio 9quesiti rapidi su semiconduttori, barrette di silicio e giunzione pn (temi d'esame 2021-2026)

Esame
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Testo (quesiti "quick" da 2 punti ricorrenti dal 2021 al 2026, con le date). Costanti usate: q=1,6⋅10−19 Cq=1{,}6\cdot10^{-19}\ \mathrm C, ni=1,5⋅1010 cm−3n_i=1{,}5\cdot10^{10}\ \mathrm{cm^{-3}} (o il valore dato), μn=1300\mu_n=1300, μp=500 cm2 V−1s−1\mu_p=500\ \mathrm{cm^2\,V^{-1}s^{-1}} (o i valori dati), VT=25 mVV_T=25\ \mathrm{mV}.

Teoria usata: Semiconduttori - bande, drogaggio e legge di azione di massaNel silicio puro (intrinseco) ogni coppia elettrone-lacuna è creata dall'agitazione termica: n = p = n_i ≈ 1,5·10^10 cm^-3 a 300 K, con n_i^2 proporzionale a T^3 e^{-E_G/kT}. Il drogaggio con donatori (gruppo V) crea elettroni liberi (tipo n, n ≈ N_D), con accettori (gruppo III) crea lacune (tipo p, p ≈ N_A). Vale sempre la legge di azione di massa n·p = n_i^2 e la neutralità della carica p + N_D = n + N_A; con drogaggi compensati conta la differenza N_D − N_A.Semiconduttori - bande, drogaggio e legge di azione di massa →, Corrente di deriva e di diffusione - resistenza di una barrettaNei semiconduttori la corrente ha due cause: il campo elettrico (deriva, J = qpμ_pE + qnμ_nE = σE, con velocità v = μE) e le differenze di concentrazione (diffusione, J_n = qD_n dn/dx, J_p = −qD_p dp/dx). Le due costanti sono legate dalla relazione di Einstein D/μ = V_T = kT/q ≈ 25 mV. Una barretta uniforme di lunghezza L e sezione S ha resistenza R = L/(σS). In un materiale isolato a concentrazione non uniforme la corrente totale è nulla e compare un campo (e una tensione V(X2) − V(X1) = V_T ln[n(X2)/n(X1)]).Corrente di deriva e di diffusione - resistenza di una barretta →, Giunzione pn - potenziale di contatto e zona di svuotamentoMettendo a contatto un semiconduttore p e uno n le lacune diffondono verso n e gli elettroni verso p lasciando una zona di svuotamento di ioni fissi, con un campo che frena la diffusione. In equilibrio tra le regioni quasi neutre c'è il potenziale di contatto Φ0 = V_T ln(N_A N_D / n_i^2), la zona ha larghezza W = sqrt[(2ε/q)(1/N_A + 1/N_D) Φ0] e campo massimo E_max = 2Φ0/W. Con tensione diretta V la barriera scende a Φ0 − V e W(V) = W0 sqrt(1 − V/Φ0); il comportamento è quello di una capacità C_j = C_j0/sqrt(1 − V/Φ0). La corrente è I = I_S (e^{V/V_T} − 1). Ai morsetti di un diodo isolato la tensione è nulla: Φ0 non si misura con un voltmetro.Giunzione pn - potenziale di contatto e zona di svuotamento →.


1. Densità di corrente in una barretta di tipo p (22 giugno 2021, 26 giugno 2026)

Silicio di tipo p uniforme, L=100 μmL=100\ \mu\mathrm m, tensione V=4 VV=4\ \mathrm V, NA=2⋅1017 cm−3N_A=2\cdot10^{17}\ \mathrm{cm^{-3}}, μp=440 cm2V−1s−1\mu_p=440\ \mathrm{cm^2V^{-1}s^{-1}}. Densità di corrente (minoritari trascurabili). E=V/L=4/0,01 cm=400 V/cmE=V/L=4/0{,}01\ \mathrm{cm}=400\ \mathrm{V/cm} (sotto 3⋅103 V/cm3\cdot10^3\ \mathrm{V/cm}: il modello lineare vale). p≃NAp\simeq N_A: J=qpμpE=1,6⋅10−19⋅2⋅1017⋅440⋅400=5632 A/cm2.J=qp\mu_pE=1{,}6\cdot10^{-19}\cdot2\cdot10^{17}\cdot440\cdot400=\mathbf{5632\ A/cm^2}.

2. Drogaggio di una barretta dalla resistenza (3 febbraio 2022, 31 agosto 2022, 14 febbraio 2024, 26 giugno 2024, 30 giugno 2025)

Barretta di silicio di tipo p, L=10 mmL=10\ \mathrm{mm}, larghezza 3 mm3\ \mathrm{mm}, altezza 1 mm1\ \mathrm{mm}, R=100 ΩR=100\ \Omega. Concentrazione del drogante. Sezione S=0,3 cm⋅0,1 cm=0,03 cm2S=0{,}3\ \mathrm{cm}\cdot0{,}1\ \mathrm{cm}=0{,}03\ \mathrm{cm^2}; σ=LRS=1100⋅0,03=0,333 S/cm\sigma=\dfrac{L}{RS}=\dfrac{1}{100\cdot0{,}03}=0{,}333\ \mathrm{S/cm}. Nel tipo p σ≃qNAμp\sigma\simeq qN_A\mu_p: NA=σqμp=0,3331,6⋅10−19⋅500=4,17⋅1015 cm−3N_A=\frac{\sigma}{q\mu_p}=\frac{0{,}333}{1{,}6\cdot10^{-19}\cdot500}=\mathbf{4{,}17\cdot10^{15}\ cm^{-3}} (minoritari: n=ni2/NA=5,4⋅104n=n_i^2/N_A=5{,}4\cdot10^4, trascurabili). Variante del 31 agosto 2022: 20×4×1 mm20\times4\times1\ \mathrm{mm}, R=200 ΩR=200\ \Omega: S=0,04 cm2S=0{,}04\ \mathrm{cm^2}, σ=2200⋅0,04=0,25 S/cm\sigma=\dfrac{2}{200\cdot0{,}04}=0{,}25\ \mathrm{S/cm}, NA=3,125⋅1015 cm−3N_A=\mathbf{3{,}125\cdot10^{15}\ cm^{-3}}.

3. Resistenza di una barretta con drogaggi compensati (13 febbraio 2023, 23 giugno 2023, 29 agosto 2023, 10 luglio 2024, 30 gennaio 2025)

S=1 mm2S=1\ \mathrm{mm^2}, L=40 mmL=40\ \mathrm{mm}, prima drogata con ND=2⋅1015N_D=2\cdot10^{15} e poi con NA=8⋅1013 cm−3N_A=8\cdot10^{13}\ \mathrm{cm^{-3}}. Resistenza (calcolo approssimato). Il materiale è di tipo n con n≃ND−NA=1,92⋅1015 cm−3n\simeq N_D-N_A=1{,}92\cdot10^{15}\ \mathrm{cm^{-3}} (p=ni2/n≈105p=n_i^2/n\approx10^5, trascurabile). σ≃qnμn=1,6⋅10−19⋅1,92⋅1015⋅1300=0,399 S/cm\sigma\simeq qn\mu_n=1{,}6\cdot10^{-19}\cdot1{,}92\cdot10^{15}\cdot1300=0{,}399\ \mathrm{S/cm}; S=0,01 cm2S=0{,}01\ \mathrm{cm^2}, L=4 cmL=4\ \mathrm{cm}: R=LσS=40,399⋅0,01=1002 Ω.R=\frac{L}{\sigma S}=\frac{4}{0{,}399\cdot0{,}01}=\mathbf{1002\ \Omega}. Varianti: S=10 mm2S=10\ \mathrm{mm^2}, L=30 mmL=30\ \mathrm{mm}, ND=0,2⋅1015N_D=0{,}2\cdot10^{15}, NA=8⋅1013N_A=8\cdot10^{13}: n=1,2⋅1014n=1{,}2\cdot10^{14}, σ=0,0250 S/cm\sigma=0{,}0250\ \mathrm{S/cm}, R=30,0250⋅0,1=1202 ΩR=\dfrac{3}{0{,}0250\cdot0{,}1}=\mathbf{1202\ \Omega}; S=10 mm2S=10\ \mathrm{mm^2}, L=20 mmL=20\ \mathrm{mm}, ND=1015N_D=10^{15}, NA=50⋅1013=5⋅1014N_A=50\cdot10^{13}=5\cdot10^{14}: n=5⋅1014n=5\cdot10^{14}, σ=0,104 S/cm\sigma=0{,}104\ \mathrm{S/cm}, R=20,104⋅0,1=192 ΩR=\dfrac{2}{0{,}104\cdot0{,}1}=\mathbf{192\ \Omega}.

4. Potenziale di giunzione (8 luglio 2021, 25 agosto 2021, 11 luglio 2023, 13 luglio 2026)

Φ0=VTln⁡NANDni2\Phi_0=V_T\ln\dfrac{N_AN_D}{n_i^2}.

  • NA=4⋅1014N_A=4\cdot10^{14}, ND=2⋅1018N_D=2\cdot10^{18}, ni=1,5⋅1010n_i=1{,}5\cdot10^{10}: Φ0=0,025ln⁡8⋅10322,25⋅1020=0,025⋅28,90=722 mV\Phi_0=0{,}025\ln\dfrac{8\cdot10^{32}}{2{,}25\cdot10^{20}}=0{,}025\cdot28{,}90=\mathbf{722\ mV}.
  • NA=3⋅1018N_A=3\cdot10^{18}, ND=6⋅1015N_D=6\cdot10^{15}, ni=1,4⋅1010n_i=1{,}4\cdot10^{10} (25 agosto 2021): Φ0=0,025ln⁡1,8⋅10341,96⋅1020=804 mV\Phi_0=0{,}025\ln\dfrac{1{,}8\cdot10^{34}}{1{,}96\cdot10^{20}}=\mathbf{804\ mV}.

Attenzione al quesito del 13 luglio 2026. Chiede "la differenza di potenziale VDV_D presente ai capi del diodo" (con il diodo disegnato isolato, senza generatori). Il valore Φ0=722 mV\Phi_0=722\ \mathrm{mV} è la differenza di potenziale tra le regioni quasi neutre, non è misurabile ai morsetti: ai contatti metallo-semiconduttore si formano altri potenziali di contatto che compensano esattamente Φ0\Phi_0. Ai capi di un diodo in equilibrio, non collegato a nulla, la tensione è nulla: VD=0 VV_D=0\ \mathrm V (Giunzione pn - potenziale di contatto e zona di svuotamentoMettendo a contatto un semiconduttore p e uno n le lacune diffondono verso n e gli elettroni verso p lasciando una zona di svuotamento di ioni fissi, con un campo che frena la diffusione. In equilibrio tra le regioni quasi neutre c'è il potenziale di contatto Φ0 = V_T ln(N_A N_D / n_i^2), la zona ha larghezza W = sqrt[(2ε/q)(1/N_A + 1/N_D) Φ0] e campo massimo E_max = 2Φ0/W. Con tensione diretta V la barriera scende a Φ0 − V e W(V) = W0 sqrt(1 − V/Φ0); il comportamento è quello di una capacità C_j = C_j0/sqrt(1 − V/Φ0). La corrente è I = I_S (e^{V/V_T} − 1). Ai morsetti di un diodo isolato la tensione è nulla: Φ0 non si misura con un voltmetro.Giunzione pn - potenziale di contatto e zona di svuotamento →). (Se si intende il potenziale di giunzione, la risposta è 722 mV722\ \mathrm{mV}: conviene indicare entrambe le cose e la distinzione.)

5. Corrente di deriva in una barretta isolata a drogaggio non uniforme (23 giugno 2022, 27 maggio 2024, 10 luglio 2025)

Barretta di silicio isolata di tipo p, L=100 μmL=100\ \mu\mathrm m, p=p1=1,5⋅1016p=p_1=1{,}5\cdot10^{16} per x<x1=40 μmx<x_1=40\ \mu\mathrm m, crescente linearmente fino a p2=4⋅1017 cm−3p_2=4\cdot10^{17}\ \mathrm{cm^{-3}} in x2=60 μmx_2=60\ \mu\mathrm m e costante dopo; μp=480\mu_p=480, Dp=13 cm2/sD_p=13\ \mathrm{cm^2/s}. Valori massimo e minimo della densità di corrente di deriva. Barretta isolata: corrente totale nulla ⇒Jp,drift=−Jp,diff=+qDpdpdx\Rightarrow J_{p,drift}=-J_{p,diff}=+qD_p\dfrac{dp}{dx}.

  • Nei tratti a pp costante dp/dx=0dp/dx=0: nessuna diffusione e quindi nessuna deriva (J=0J=0).
  • Nel tratto lineare: dpdx=4⋅1017−1,5⋅101620⋅10−4 cm=1,925⋅1020 cm−4\dfrac{dp}{dx}=\dfrac{4\cdot10^{17}-1{,}5\cdot10^{16}}{20\cdot10^{-4}\ \mathrm{cm}}=1{,}925\cdot10^{20}\ \mathrm{cm^{-4}} e Jp,drift=1,6⋅10−19⋅13⋅1,925⋅1020=400,4 A/cm2.J_{p,drift}=1{,}6\cdot10^{-19}\cdot13\cdot1{,}925\cdot10^{20}=\mathbf{400{,}4\ A/cm^2}. Massimo 400,4 A/cm2400{,}4\ \mathrm{A/cm^2} (nel tratto lineare, positivo), minimo 00 (nei due tratti uniformi). La mobilità è un dato superfluo.

6. Differenza di potenziale per un profilo di drogaggio (22 agosto 2024)

Barretta con donatori: n=NDn=N_D per 0≤x≤2 mm0\le x\le2\ \mathrm{mm}, crescente linearmente a 100ND100N_D in x=4 mmx=4\ \mathrm{mm}, costante fino a 5 mm5\ \mathrm{mm}, decrescente fino a 10ND10N_D in x=6 mmx=6\ \mathrm{mm} e costante dopo. Espressione e valore di V(x1)−V(x2)V(x_1)-V(x_2) con x1=1 mmx_1=1\ \mathrm{mm}, x2=7 mmx_2=7\ \mathrm{mm}. Solo i valori nei due punti contano: n(x1)=NDn(x_1)=N_D, n(x2)=10NDn(x_2)=10N_D. Da V(X2)−V(X1)=VTln⁡n(X2)n(X1)V(X_2)-V(X_1)=V_T\ln\dfrac{n(X_2)}{n(X_1)}: V(x1)−V(x2)=VTln⁡n(x1)n(x2)=VTln⁡ND10ND=−VTln⁡10=−25 mV⋅2,303=−57,6 mV.V(x_1)-V(x_2)=V_T\ln\frac{n(x_1)}{n(x_2)}=V_T\ln\frac{N_D}{10N_D}=-V_T\ln10=-25\ \mathrm{mV}\cdot2{,}303=\mathbf{-57{,}6\ mV}. Il punto x1x_1 (meno drogato) sta a potenziale più basso di 57,6 mV57{,}6\ \mathrm{mV} rispetto a x2x_2.

Errori comuni

  • Dimenticare di convertire millimetri in centimetri nella sezione e nella lunghezza.
  • Usare n=NDn=N_D senza sottrarre NAN_A quando i droganti sono due.
  • Prendere Φ0\Phi_0 come tensione misurabile ai morsetti del diodo isolato (è nulla).
  • Calcolare la deriva in una barretta isolata con E=V/LE=V/L: la tensione esterna è nulla, il campo è interno e compensa la diffusione.
  • Usare log⁡10\log_{10} al posto di ln⁡\ln nelle formule di Φ0\Phi_0 e della tensione di concentrazione.

Versione ripasso

  • Densità di corrente: J=qpμpEJ=qp\mu_pE, E=V/LE=V/L: NA=2⋅1017N_A=2\cdot10^{17}, μp=440\mu_p=440, 44 V su 100 μ100\ \mum: 400400 V/cm, 56325632 A/cm².
  • Drogaggio da RR: σ=LRS\sigma=\frac L{RS}, NA=σqμpN_A=\frac\sigma{q\mu_p}: 10×3×110\times3\times1 mm, 100 Ω100\ \Omega: 4,17⋅10154{,}17\cdot10^{15}; 20×4×120\times4\times1 mm, 200 Ω200\ \Omega: 3,125⋅10153{,}125\cdot10^{15}.
  • Compensato: n≃ND−NAn\simeq N_D-N_A, R=LqnμnSR=\frac L{qn\mu_nS}: 2⋅1015−8⋅10132\cdot10^{15}-8\cdot10^{13} (1 mm21\ \mathrm{mm^2}, 4040 mm): 1002 Ω1002\ \Omega; (10 mm210\ \mathrm{mm^2}, 3030 mm, 0,2⋅10150{,}2\cdot10^{15}, 8⋅10138\cdot10^{13}): 1202 Ω1202\ \Omega; (10 mm210\ \mathrm{mm^2}, 2020 mm, 101510^{15}, 5⋅10145\cdot10^{14}): 192 Ω192\ \Omega.
  • Φ0=VTln⁡NANDni2\Phi_0=V_T\ln\frac{N_AN_D}{n_i^2}: 722722 mV (4⋅10144\cdot10^{14}, 2⋅10182\cdot10^{18}); 804804 mV. Ai capi del diodo isolato: 00 V.
  • Barretta isolata non uniforme: Jdrift=qDpdpdxJ_{drift}=qD_p\frac{dp}{dx} (00 dove pp è costante): max 400,4400{,}4 A/cm², min 00.
  • Profilo di drogaggio: V(x1)−V(x2)=VTln⁡n(x1)n(x2)=−57,6V(x_1)-V(x_2)=V_T\ln\frac{n(x_1)}{n(x_2)}=-57{,}6 mV per ND→10NDN_D\to10N_D.
  • Errori: mm/cm; ND−NAN_D-N_A; Φ0\Phi_0 misurabile; E=V/LE=V/L in barretta isolata; ln⁡\ln vs log⁡\log.

Teoria collegata