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Note per Studenti Esercizio 21 · corrente media di un microcontrollore con lo shunt (tema d'esame luglio 2021)

Esercizio 21corrente media di un microcontrollore con lo shunt (tema d'esame luglio 2021)

Esame
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Testo (esercizio del corso e tema d'esame luglio 2021, quesito 1).

Parte 1 (esercizio del corso). Con il metodo volt-amperometrico si misura la corrente assorbita da un microcontrollore, con una resistenza di shunt RsR_s di valore nominale 12 Ω12\ \Omega e tolleranza 10%10\%. La caduta di tensione sullo shunt è misurata con un voltmetro: Vmis=100V_{mis}=100 mV con incertezza standard u(Vmis)=100 μu(V_{mis})=100\ \muV. A) Miglior stima della corrente e incertezza standard. B) Incertezze relative di tensione e resistenza: quale incide di più?

Parte 2 (luglio 2021). Un sistema a microcontrollore alterna una fase di attività Tactive=1,2T_{active}=1{,}2 ms e una di sleep Tsleep=200T_{sleep}=200 ms. Per misurare la corrente della batteria si usa uno shunt di 10 Ω10\ \Omega e un oscilloscopio con scale verticali da 11 mV/div a 55 V/div. 1) Il data sheet dà Isleep=1 μI_{sleep}=1\ \muA; sapendo che l'incertezza estesa delle misure di ampiezza è il 2,5%2{,}5\% del range impostato, è possibile misurarla con incertezza relativa inferiore al 30%30\%? 2) Scala orizzontale per vedere un intero ciclo (da 55 ns/div a 5050 s/div, passi 11-22-55). 3) Corrente media in un ciclo, sapendo Vactive=200V_{active}=200 mV. 4) Quali contributi ha senso misurare con l'oscilloscopio e per quali un altro strumento? 5) Incertezza standard della corrente media con Vactive=200±10V_{active}=200\pm10 mV, Isleep=1000±50I_{sleep}=1000\pm50 nA, Rshunt=10,0±0,5 ΩR_{shunt}=10{,}0\pm0{,}5\ \Omega (k=2k=2; tempi con incertezza trascurabile).


Teoria usata: Misura volt-amperometrica, shunt e strumenti derivati dal voltmetroCon un voltmetro e un amperometro si ricava $R_x=V/I$ in due modi: voltmetro in parallelo a $R_x$ (misura $R_x\parallel R_V$, errore $\frac{R_x^2}{R_x+R_V}$) oppure amperometro in serie a $R_x$ e voltmetro su entrambi (misura $R_x+R_A$, errore $R_A$); il primo conviene per $R_x<\sqrt{R_AR_V}$. Dal voltmetro si ricava un amperometro con un resistore di shunt ($I=V_m/R_s$, $R_s=V_{FS}/I_{FS}$) e un ohmmetro con una corrente di prova nota o con un resistore di riferimento; con le specifiche si fissa il limite sull'incertezza dell'elemento aggiunto: $U_{agg}=\sqrt{U_{tot}^2-U_V^2}$ (relative, al fondo scala).Misura volt-amperometrica, shunt e strumenti derivati dal voltmetro →, Propagazione dell'incertezza e bilancio di incertezzaSe $y=f(x_1,\dots,x_K)$ con ingressi indipendenti, l'incertezza standard combinata è $u_C(y)=\sqrt{\sum_i c_i^2u^2(x_i)}$ con coefficienti di sensibilità $c_i=\partial f/\partial x_i$ (Taylor al primo ordine). Casi tipici: somma/differenza $u=\sqrt{u_1^2+u_2^2}$ (la differenza di due misure con lo stesso cursore dà $\sqrt2,u$); prodotti e quozienti $\frac{u_y}{y}=\sqrt{\sum(\frac{a_iu_i}{x_i})^2}$. Il bilancio di incertezza confronta i contributi $|c_i|u_i$ e indica quale ottimizzare. Con ingressi correlati si aggiunge $2\sum c_ic_j,u(x_i,x_j)$. Il metodo Monte Carlo propaga le distribuzioni senza derivate.Propagazione dell'incertezza e bilancio di incertezza →, Incertezza di tipo B - distribuzioni e specifiche degli strumentiL'incertezza di tipo B si ricava da informazioni a priori (manuale, tolleranza, risoluzione, taratura) assegnando una densità di probabilità al misurando. Estesa $U$ con fattore $k$ dato: $u=U/k$; intervallo $\pm a$ con probabilità 100% (tolleranza, risoluzione): distribuzione uniforme, $u=a/\sqrt3$; trapezoidale $u=a\sqrt{(1+\beta^2)/6}$ (triangolare $a/\sqrt6$). Le specifiche dei multimetri sono nella forma $\pm(%\text{ lettura}+%\text{ fondo scala})$ (più eventuali counts e $0{,}2\ \Omega$ a due fili), valida per fondo scala, banda di frequenza e tempo dalla taratura; l'oscilloscopio ha formule per cursori e per la risoluzione ($T_w/1000$ in orizzontale, $FS/2^8$ in verticale).Incertezza di tipo B - distribuzioni e specifiche degli strumenti →.

Parte 1: shunt da 12 Ω12\ \Omega

A. I=f(Vs,Rs)=VsRsI=f(V_s,R_s)=\dfrac{V_s}{R_s}, quindi I^=100 mV12 Ω=8,3 mA.\hat I=\frac{100\ \text{mV}}{12\ \Omega}=8{,}3\ \text{mA}. Derivate: ∂I∂Vs=1Rs\frac{\partial I}{\partial V_s}=\frac1{R_s} e ∂I∂Rs=−VsRs2=−IRs\frac{\partial I}{\partial R_s}=-\frac{V_s}{R_s^2}=-\frac I{R_s}; in forma relativa u(I)=I(u(Vs)Vs)2+(u(Rs)Rs)2.u(I)=I\sqrt{\Big(\frac{u(V_s)}{V_s}\Big)^2+\Big(\frac{u(R_s)}{R_s}\Big)^2}. u(Vs)=100 μu(V_s)=100\ \muV è dato. Per RsR_s si usa il metodo B: Rs∈12(1±0,1)=[10,8; 13,2] ΩR_s\in12(1\pm0{,}1)=[10{,}8;\ 13{,}2]\ \Omega, distribuzione uniforme con semiampiezza 1,2 Ω1{,}2\ \Omega: u(Rs)=1,23=0,693 Ω≃0,7 Ω.u(R_s)=\frac{1{,}2}{\sqrt3}=0{,}693\ \Omega\simeq0{,}7\ \Omega. u(I)=8,3 mA(10−3)2+(0,7/12)2=8,3 mA⋅0,058=0,48 mA≃0,5 mA.u(I)=8{,}3\ \text{mA}\sqrt{(10^{-3})^2+(0{,}7/12)^2}=8{,}3\ \text{mA}\cdot0{,}058=0{,}48\ \text{mA}\simeq0{,}5\ \text{mA}.

B. u(Vs)Vs=100 μV100 mV=0,1%\frac{u(V_s)}{V_s}=\frac{100\ \mu\text{V}}{100\ \text{mV}}=0{,}1\% e u(Rs)Rs=0,69312=5,8%\frac{u(R_s)}{R_s}=\frac{0{,}693}{12}=5{,}8\%. Entrambi pesano con lo stesso coefficiente ma incide molto di più la resistenza (cinquantotto volte): u(I)I≃u(Rs)Rs\frac{u(I)}I\simeq\frac{u(R_s)}{R_s}. Per migliorare bisogna ridurre u(Rs)u(R_s): scegliere un resistore con tolleranza minore, o misurare prima lo shunt con un multimetro.

Parte 2: corrente media di un microcontrollore

1. Corrente di sleep. Vsleep=IsleepRshunt=1 μA⋅10 Ω=10 μV_{sleep}=I_{sleep}R_{shunt}=1\ \mu\text{A}\cdot10\ \Omega=10\ \muV. Per misurarla si sceglie la scala minima, 11 mV/div (FS=8FS=8 mV): U(V)=2,5%⋅8 mV=200 μU(V)=2{,}5\%\cdot8\ \text{mV}=200\ \muV. Incertezza relativa (con k=2k=2 per semplicità): ε=U/2Vsleep=100 μV10 μV=1000%.\varepsilon=\frac{U/2}{V_{sleep}}=\frac{100\ \mu\text{V}}{10\ \mu\text{V}}=1000\%. Non è possibile ottenere meno del 30%30\% con l'oscilloscopio: l'incertezza standard (100 μ100\ \muV) è dieci volte il segnale (10 μ10\ \muV) già alla scala più sensibile.

2. Scala orizzontale. Un ciclo dura Tcycle=Tactive+Tsleep=201,2T_{cycle}=T_{active}+T_{sleep}=201{,}2 ms; si vuole 10 ΔTh>Tcycle10\,\Delta T_h>T_{cycle}: ΔTh>20,12 ms/div ⇒ 50 ms/div(Tw=500 ms).\Delta T_h>20{,}12\ \text{ms/div}\ \Rightarrow\ \boxed{50\ \text{ms/div}}\quad(T_w=500\ \text{ms}).

3. Corrente media. Il segnale sullo shunt è un'onda rettangolare con duty cycle molto basso, d=TactiveTcycle=1,2201,2=0,00596d=\frac{T_{active}}{T_{cycle}}=\frac{1{,}2}{201{,}2}=0{,}00596. La corrente media è la media pesata delle due fasi, con Iactive=200 mV10 Ω=20I_{active}=\frac{200\ \text{mV}}{10\ \Omega}=20 mA: Ic=d Iactive+(1−d)Isleep=0,00596⋅20 mA+0,99404⋅1 μA=119,3 μA+1,0 μA≃120 μA.I_c=d\,I_{active}+(1-d)I_{sleep}=0{,}00596\cdot20\ \text{mA}+0{,}99404\cdot1\ \mu\text{A}=119{,}3\ \mu\text{A}+1{,}0\ \mu\text{A}\simeq120\ \mu\text{A}.

4. Quale strumento per ogni termine.

  • RshuntR_{shunt}: è dato con tolleranza alta (serie economica): si misura prima con un multimetro.
  • TactiveT_{active} e TsleepT_{sleep}: si misurano bene con l'oscilloscopio; per la fase attiva si usa una scala più veloce (per esempio 200 μ200\ \mus/div).
  • Vactive=200V_{active}=200 mV: si misura con l'oscilloscopio (per esempio a 5050 mV/div).
  • VsleepV_{sleep}: non con l'oscilloscopio (punto 1). Si può usare un multimetro sincronizzato e con tempo di integrazione minore del tempo di sleep (il multimetro dà un valore efficace, ma per una fase costante coincide con il valore), funzioni avanzate dell'oscilloscopio (media, high resolution, integrale), o strumenti dedicati ai sistemi a microcontrollore con campo di corrente adattabile.

5. Incertezza della corrente media. Si convertono le incertezze estese in standard (k=2k=2): u(R)=0,52=0,25 Ωu(R)=\frac{0{,}5}2=0{,}25\ \Omega, u(Vactive)=102=5u(V_{active})=\frac{10}2=5 mV, u(Isleep)=502=25u(I_{sleep})=\frac{50}2=25 nA. Prima Iactive=VactiveRshunt=20I_{active}=\frac{V_{active}}{R_{shunt}}=20 mA: u(Iactive)=Iactive(0,2510)2+(5200)2=20 mA⋅0,0354=0,71 mA.u(I_{active})=I_{active}\sqrt{\Big(\frac{0{,}25}{10}\Big)^2+\Big(\frac5{200}\Big)^2}=20\ \text{mA}\cdot0{,}0354=0{,}71\ \text{mA}. Poi Ic=d Iactive+(1−d)IsleepI_c=d\,I_{active}+(1-d)I_{sleep} con ∂Ic∂Iactive=d\frac{\partial I_c}{\partial I_{active}}=d e ∂Ic∂Isleep=1−d\frac{\partial I_c}{\partial I_{sleep}}=1-d (tempi senza incertezza): u(Ic)=d2u2(Iactive)+(1−d)2u2(Isleep)=(0,00596⋅0,71 mA)2+(0,994⋅25 nA)2=(4,2 μA)2+(0,025 μA)2=4,2 μA.u(I_c)=\sqrt{d^2u^2(I_{active})+(1-d)^2u^2(I_{sleep})}=\sqrt{(0{,}00596\cdot0{,}71\ \text{mA})^2+(0{,}994\cdot25\ \text{nA})^2}=\sqrt{(4{,}2\ \mu\text{A})^2+(0{,}025\ \mu\text{A})^2}=4{,}2\ \mu\text{A}. Il contributo della corrente di sleep (0,025 μ0{,}025\ \muA) è trascurabile rispetto a quello della fase attiva (4,2 μ4{,}2\ \muA): a Ic=120 μAI_c=120\ \mu\text{A} l'incertezza è 3,5%3{,}5\% (U=8,4 μU=8{,}4\ \muA con k=2k=2). Si ottiene Ic=120±9 μI_c=120\pm9\ \muA.

Nota sulla soluzione ufficiale. Il testo ufficiale usa Iactive=100I_{active}=100 mA nel prodotto e ottiene u(Iactive)=2,5u(I_{active})=2{,}5 mA e u(Ic)=15 μu(I_c)=15\ \muA; ma con R=10 ΩR=10\ \Omega e V=200V=200 mV la corrente attiva vale 2020 mA (Ic=120 μI_c=120\ \muA è calcolato proprio con 2020 mA), quindi i valori coerenti sono 0,710{,}71 mA e 4,2 μ4{,}2\ \muA. La conclusione sul contributo dominante non cambia.

Errori comuni

  • Misurare con l'oscilloscopio una caduta di 10 μ10\ \muV: l'incertezza è dieci volte il valore.
  • Calcolare la corrente media come media aritmetica Iactive+Isleep2\frac{I_{active}+I_{sleep}}2 invece che pesata con il duty cycle.
  • Combinare incertezze estese (±10\pm10 mV, ±0,5 Ω\pm0{,}5\ \Omega) senza passare a quelle standard.
  • Trattare lo shunt come esatto: la tolleranza del 10%10\% domina.

Versione ripasso

Testo. Parte 1: shunt 12 Ω12\ \Omega (10%10\%), V=100V=100 mV (u=100 μu=100\ \muV). Parte 2: microcontrollore Tactive=1,2T_{active}=1{,}2 ms, Tsleep=200T_{sleep}=200 ms, shunt 10 Ω10\ \Omega (luglio 2021).

Teoria collegata